高精度遅延テストのためのテストパターン生成法
高精度遅延テストのためのテストパターン生成法
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高精度延迟测试的测试模式生成方法
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
堀慧悟
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Tomokazu Yonedaノルウェートロンハイム.;Makoto Nakao;Michiko Inoue;Yasuo Sato and Hideo Fujiwara;Tomokazu Yoneda;堀慧悟
