Takayuki Miyazaki: "Spectroscopic Ellipsometry Study of Si Surfaces Modified by Low-Energy Ar^+-Ion Irradiation" Japanese Journal of Applied Physics. 32. 4941-4945 (1993)
Takayuki Miyazaki: "Spectroscopic Ellipsometry Study of Si Surfaces Modified by Low-Energy Ar^+-Ion Irradiation" Japanese Journal of Applied Physics. 32. 4941-4945 (1993)
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Takayuki Miyazaki：“低能Ar^-离子辐照改性硅表面的光谱椭圆测量研究”日本应用物理学杂志。
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