A method to find don't care values in test sequences for sequential circuits
A method to find don't care values in test sequences for sequential circuits
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一种在时序电路的测试序列中查找无关值的方法
DOI：
10.1109/iccd.2003.1240927
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
I. Pomeranz
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Higami;Shin;Y. Takamatsu;S. Kajihara;I. Pomeranz
本文提出了一种在时序电路的测试序列中寻找无关（X）值的方法。给定一个由顺序ATPG生成的完全指定的测试序列，所提出的方法产生一个包含X的测试序列，而不会丢失原始测试序列的固定故障覆盖率。
We propose a method to find don't care (X) values in a test sequence for a sequential circuit. Given a fully specified test sequence generated by a sequential ATPG, the proposed method produces a test sequence containing Xs without losing stuck-at fault coverage of the original test sequence.