倍率校正標準としてのSi 格子面間隔距離の試料条件に依存した変動の実験的評価
倍率校正標準としてのSi 格子面間隔距離の試料条件に依存した変動の実験的評価
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作为放大校准标准的样品条件依赖性硅晶格间距变化的实验评估
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
山本和弘
中科院分区：
文献类型：
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作者：
小林慶太;三隅伊知子;山本和弘
