Super Sensitive Phase Measurement Deflectometry with effective fringe periods beyond the MTF limit
Super Sensitive Phase Measurement Deflectometry with effective fringe periods beyond the MTF limit
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超灵敏相位测量偏转仪，有效条纹周期超出 MTF 限制
DOI：
10.1364/oft.2019.ow4a.6
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Falaggis, Konstantinos
中科院分区：
文献类型：
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作者：
DeMars, Luke A.;Ramirez-Andrade, Ana Hiza;Porras-Aguilar, Rosario;Falaggis, Konstantinos
