Scanning tunneling microscopy of in situ cleaved and hydrogen passivated Si(110) cross-sectional surfaces
Scanning tunneling microscopy of in situ cleaved and hydrogen passivated Si(110) cross-sectional surfaces
复制标题
原位解理和氢钝化的 Si(110) 横截面的扫描隧道显微镜
DOI：
10.1016/0039-6028(95)00038-0
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发表时间：
1995
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
J. Chu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. A. Lutz;R. Feenstra;J. Chu
