Degradation process in pentacene-based organic field-effect transistors evaluated by three-terminal capacitance-voltage measurements
Degradation process in pentacene-based organic field-effect transistors evaluated by three-terminal capacitance-voltage measurements
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通过三端电容电压测量评估并五苯基有机场效应晶体管的退化过程
DOI：
10.1557/adv.2017.225
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
0.8
通讯作者：
Hisao Ishii
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yuya Tanaka;Kohei Yamamoto;Yutaka Noguchi;Hisao Ishii
