High Resolution Imaging of Ice-I surface by Atomic Force Microscopy
High Resolution Imaging of Ice-I surface by Atomic Force Microscopy
复制标题
通过原子力显微镜对 Ice-I 表面进行高分辨率成像
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Sugimoto
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Iwata;N. Kawakami;A. Shiotari;Y. Sugimoto
