Tie Importance of Contact Radius for Substrate-Independent Property Measurement of Thin Films
Tie Importance of Contact Radius for Substrate-Independent Property Measurement of Thin Films
复制标题
接触半径对于薄膜独立于基材的特性测量的重要性
DOI：
10.1557/proc-522-27
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发表时间：
1998
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
W. Oliver
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Hay;M. E. O’Hern;W. Oliver
