固体電解質上正極薄膜の深さ分解X線吸収分光法による電子・局所構造解析
固体電解質上正極薄膜の深さ分解X線吸収分光法による電子・局所構造解析
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使用深度分辨 X 射线吸收光谱对固体电解质上的正极薄膜进行电子/局域结构分析
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
雨澤浩史
中科院分区：
文献类型：
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作者：
奥村豊旗;菊谷大祐;福塚友和;内本喜晴;寺田靖子;谷田肇;宇留賀朋也;高垣昌史;豊川秀訓;入山恭寿;雨澤浩史
