陽電子顕微鏡の開発と二次元欠陥分布計測
陽電子顕微鏡の開発と二次元欠陥分布計測
复制标题
正电子显微镜及二维缺陷分布测量的发展
DOI：
--
复制
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
藤浪眞紀
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Satoshi Tsukahara;Yuji Matsumoto;Singo Urasaki;Masanori Muramatsu;Terufumi Fujiwara;藤浪眞紀
