全反射高速陽電子回折(TRHEPD)法とデータ駆動科学を用いたCu/Si(111)表面超構造の原子配列解析
全反射高速陽電子回折(TRHEPD)法とデータ駆動科学を用いたCu/Si(111)表面超構造の原子配列解析
复制标题
使用全反射高速正电子衍射 (TRHEPD) 方法和数据驱动科学对 Cu/Si(111) 表面超结构进行原子排列分析
DOI：
--
复制
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中司湧星，田中和幸，篠原彩，望月出海，星健夫，兵頭俊夫，高山あかり
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K. Tanaka;T. Hoshi;I. Mochizuki;A. Ichimiya;and T. Hyodo;中司湧星，田中和幸，篠原彩，望月出海，星健夫，兵頭俊夫，高山あかり
