Evaluation of Heavy-Ion-Induced SEU Cross Sections of a 65 nm Thin BOX FD-SOI Flip-Flops Based on Stacked Inverter
Evaluation of Heavy-Ion-Induced SEU Cross Sections of a 65 nm Thin BOX FD-SOI Flip-Flops Based on Stacked Inverter
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基于堆叠逆变器的 65 nm 薄 BOX FD-SOI 触发器的重离子诱导 SEU 横截面评估
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Jun Furuta
中科院分区：
文献类型：
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作者：
遠藤 侑介;松本 宗太郎;上野 雄大;住井 英二郎;松本 行弘;T. Ikeda and M. Nagahara;M. Watanabe;合志清一;山岡吉生;Jun Furuta
