CALIBRATION OF ATOMIC-FORCE MICROSCOPE TIPS
CALIBRATION OF ATOMIC-FORCE MICROSCOPE TIPS
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DOI：
10.1063/1.1143970
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发表时间：
1993-07-01
影响因子：
1.6
通讯作者：
BECHHOEFER, J
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
HUTTER, JL;BECHHOEFER, J
原子力显微镜（AFM）拍摄的图像和力的测量在很大程度上取决于用于探测样品表面的弹簧和针尖的特性。在这篇文章中，我们描述了一个简单的，非破坏性的程序，用于测量力常数，共振频率，和质量因子的AFM悬臂弹簧和AFM针尖的有效曲率半径。我们的程序使用AFM本身，不需要额外的设备。
Images and force measurements taken by an atomic-force microscope (AFM) depend greatly on the properties of the spring and tip used to probe the sample's surface. In this article, we describe a simple, nondestructive procedure for measuring the force constant, resonant frequency, and quality factor of an AFM cantilever spring and the effective radius of curvature of an AFM tip. Our procedure uses the AFM itself and does not require additional equipment.