K.Sasagawa (K.Naito, H.Kimura, M.Saka and H.Abe): "Experimental Verification of Prediction Method for Polycrystalline Line Failure Using the Governing Parameter of Electromigration"Proc.1999 JSME Annual Meeting. Vol.I, No.99-1. 287-288 (1999)
K.Sasagawa (K.Naito, H.Kimura, M.Saka and H.Abe): "Experimental Verification of Prediction Method for Polycrystalline Line Failure Using the Governing Parameter of Electromigration"Proc.1999 JSME Annual Meeting. Vol.I, No.99-1. 287-288 (1999)
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K.Sasakawa（K.Naito、H.Kimura、M.Saka 和 H.Abe）：“使用电迁移控制参数对多晶硅线路故障预测方法进行实验验证”Proc.1999 JSME 年会。
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