In-situ XMCD evaluation of ferromagnetic state at FeRh thin film surface induced by 1 keV Ar ion beam irradiation and annealing
In-situ XMCD evaluation of ferromagnetic state at FeRh thin film surface induced by 1 keV Ar ion beam irradiation and annealing
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1 keV Ar 离子束辐照和退火诱导的 FeRh 薄膜表面铁磁态的原位 XMCD 评估
DOI：
10.1016/j.nimb.2015.07.060
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Amemiya and A. Iwase
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Matsui;K. AIkoh;M. Sakamaki;K. Amemiya and A. Iwase
