走査トンネル顕微鏡によるスピン・超伝導特性のナノスケール計測
走査トンネル顕微鏡によるスピン・超伝導特性のナノスケール計測
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使用扫描隧道显微镜对自旋和超导特性进行纳米级测量
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
長谷川幸雄
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Nishio Kazunori;Nakamura Naoto;Horiba Koji;Kitamura Miho;Kumigashira Hiroshi;Shimizu Ryota;Hitosugi Taro;長谷川幸雄
