Fastpath: a path-delay test generator for standard scan designs
Fastpath: a path-delay test generator for standard scan designs
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Fastpath：用于标准扫描设计的路径延迟测试生成器
DOI：
10.1109/test.1994.527946
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发表时间：
1994
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Konuk
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Bill Underwood;Wai;Sungho Kang;H. Konuk
Fastpath可为标准扫描设计（包括高阻抗元件和功能描述模块）生成非稳健、稳健或单路径敏化、无危害的稳健路径延迟测试。结果表明，有效的和内存效率的操作。
Fastpath generates non-robust, robust or single-path-sensitization hazard-free robust path-delay tests for standard scan designs including high-impedance elements and functionally-described blocks. Results show effective and memory-efficient operation.