傾斜エックス線照射により分子欠陥を導入したκ-(BEDT-TTF)2Cu[N(CN)2]Brの赤外反射スペクトル測定

傾斜エックス線照射により分子欠陥を導入したκ-(BEDT-TTF)2Cu[N(CN)2]Brの赤外反射スペクトル測定
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斜X射线照射引入分子缺陷的κ-(BEDT-TTF)2Cu[N(CN)2]Br的红外反射光谱测量

DOI:
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发表时间:
2020
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
佐々木孝彦
佐々木孝彦
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
佐藤直道;桐野友輝;井口敏;古川哲也;杉浦栞理;米山直樹;池本夕佳;森脇太郎;佐々木孝彦

文献摘要

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