InSb薄膜ホール素子による微小磁場計測
InSb薄膜ホール素子による微小磁場計測
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使用InSb薄膜霍尔元件测量微磁场
DOI:
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发表时间:
2017
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
眞砂 卓史,笠原 健司,柴崎 一郎
中科院分区:
文献类型:
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作者:
Naoki Tanaka;Takashi Hikage;and Toshio Nojima;眞砂 卓史,笠原 健司,柴崎 一郎