J‐PARC muon g‐2/EDM実験:シリコンストリップ検出器の性能評価試験
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DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
西村昇一郎;池田博一;池野正弘;伊藤拓実;上野一樹;内田智久;川越清以;久米達哉;高力孝;齊藤直人;佐々木修;佐藤優太郎;-庄子正剛
中科院分区：
文献类型：
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作者：
西村昇一郎;池田博一;池野正弘;伊藤拓実;上野一樹;内田智久;川越清以;久米達哉;高力孝;齊藤直人;佐々木修;佐藤優太郎;-庄子正剛
