ケルビンプローブ力顕微鏡(KPFM)による半導体表面における原子スケール表面電位計測の進展
ケルビンプローブ力顕微鏡(KPFM)による半導体表面における原子スケール表面電位計測の進展
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使用开尔文探针力显微镜（KPFM）测量半导体表面原子级表面电势的进展
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
菅原康弘
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hirano Atsushi;Nagatoishi Satoru;Wada Momoyo;Tsumoto Kouhei;Maluf Karl N.;Arakawa Tsutomu;菅原康弘
