電子デバイス配線CNTの強度信頼性評価法の構築
電子デバイス配線CNTの強度信頼性評価法の構築
复制标题
电子器件布线碳纳米管强度可靠性评价方法的构建
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
笹川 和彦
中科院分区：
文献类型：
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作者：
石橋正晃;藤本岳洋;松山靖典;中川智貴，細井厚志，巨陽;笹川 和彦
