Local tomography in electron microscopy
Local tomography in electron microscopy
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DOI：
10.1137/07068326x
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发表时间：
2008-01-01
影响因子：
1.9
通讯作者：
Oktem, Ozan
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Quinto, Eric Todd;Oktem, Ozan
我们提出了一种适用于电子显微镜断层扫描的新局部断层扫描算法。我们的算法适用于标准数据采集方法、单轴倾斜，以及更任意的采集方法，包括双轴和圆锥倾斜。使用微局域分析，我们将重建置于数学背景下，解释从电子显微镜中数据收集协议给出的有限数据中可以稳定地看到哪些奇点。最后，我们根据电子断层扫描数据提供真实样本的重建。
We present a new local tomographic algorithm applicable to electron microscope tomography. Our algorithm applies to the standard data acquisition method, single-axis tilting, as well as to more arbitrary acquisition methods including double axis and conical tilt. Using microlocal analysis we put the reconstructions in a mathematical context, explaining which singularities are stably visible from the limited data given by the data collection protocol in the electron microscope. Finally, we provide reconstructions of real specimens from electron tomography data.