CMOS图像传感器辐照损伤效应仿真模拟研究进展
CMOS图像传感器辐照损伤效应仿真模拟研究进展
复制标题
DOI：
--
复制
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
聂栩
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
王祖军;赖善坤;杨勰;贾同轩;黄港;聂栩
