Development of dual-focus scanning internal photoemission microscopy for mapping of both top and rear surfaces of 3C-SiC layers
Development of dual-focus scanning internal photoemission microscopy for mapping of both top and rear surfaces of 3C-SiC layers
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开发用于 3C-SiC 层顶面和后表面测绘的双焦点扫描内部光电显微镜
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and M. Kato
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Shiojima;N. Ichikawa;and M. Kato
