N.Sadotani,S.Hirano and A.Kishimoto: "In-situ Monitoring of Indentation Fracture in Semiconductive Titania Ceramics"J.Mat.Sci.Lett.. 19[3]. 221-223 (2000)
N.Sadotani,S.Hirano and A.Kishimoto: "In-situ Monitoring of Indentation Fracture in Semiconductive Titania Ceramics"J.Mat.Sci.Lett.. 19[3]. 221-223 (2000)
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N.Sadotani、S.Hirano 和 A.Kishimoto：“半导体二氧化钛陶瓷中压痕断裂的原位监测”J.Mat.Sci.Lett.. 19[3]。
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