Atom distribution in SnSb2Te4 by resonant X-ray diffraction
Atom distribution in SnSb2Te4 by resonant X-ray diffraction
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通过共振 X 射线衍射分析 SnSb2Te4 中的原子分布
DOI：
10.1016/j.solidstatesciences.2010.12.043
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发表时间：
2011
影响因子：
3.5
通讯作者：
G. Vaughan
中科院分区：
文献类型：
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作者：
O. Oeckler;M. Schneider;F. Fahrnbauer;G. Vaughan
