Y.Hashimoto,K.Hirakawa,K.Harada and T.Ikoma: "Strain induced change in band offsets at pseudomorphically grown InAs/GaAs heterointerfaces characterized by xーray photoelectron spectroscopy" Surface Science.
Y.Hashimoto,K.Hirakawa,K.Harada and T.Ikoma: "Strain induced change in band offsets at pseudomorphically grown InAs/GaAs heterointerfaces characterized by xーray photoelectron spectroscopy" Surface Science.
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Y. Hashimoto、K. Hirakawa、K. Harada 和 T. Ikoma：“通过 X 射线光电子能谱表征的假晶生长的 InAs/GaAs 异质界面上的应变引起的能带偏移变化”《表面科学》。
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