Stamate E, Ohe K, Takai O, Sugai H: "Plasma Diagnostics by Detecting the Ion Flux Profile to a Biased Target"Surface and Coatings Technology. (印刷中). (2003)
Stamate E, Ohe K, Takai O, Sugai H: "Plasma Diagnostics by Detecting the Ion Flux Profile to a Biased Target"Surface and Coatings Technology. (印刷中). (2003)
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Stamate E、Ohe K、Takai O、Sugai H：“通过检测偏置目标的离子通量轮廓进行等离子体诊断”表面和涂层技术（2003 年）。
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