T.Shimura, I.Takahashi, J.Harada, and M.Umeno: "X-ray diffraction evidence for crystalline SiO_2 in thermal oxide layrs on Si substrate" The Physics and Chemistry of SiO_2 and the Si-SiO_2 Interface 3. 96-1. 456-467 (1996)
T.Shimura, I.Takahashi, J.Harada, and M.Umeno: "X-ray diffraction evidence for crystalline SiO_2 in thermal oxide layrs on Si substrate" The Physics and Chemistry of SiO_2 and the Si-SiO_2 Interface 3. 96-1. 456-467 (1996)
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T.Shimura、I.Takahashi、J.Harada 和 M.Umeno：“Si 基板上热氧化物层中结晶 SiO_2 的 X 射线衍射证据”The Chemistry of SiO_2 and the Si-SiO_2 Interface 3. 96-
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