Nano-Scale Profile of the Dielectric Constant Near the Si/oxide Interface: A First-Principles Approach
Nano-Scale Profile of the Dielectric Constant Near the Si/oxide Interface: A First-Principles Approach
复制标题
硅/氧化物界面附近介电常数的纳米级分布：第一性原理方法
DOI：
--
复制
发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
A. Natori
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
J. Nakamura;S. Wakui;S. Eguchi;R. Yanai;A. Natori
