高統計二光子過程パイ中間子生成断面積測定による振幅解析
高統計二光子過程パイ中間子生成断面積測定による振幅解析
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通过高统计双光子过程π介子生成截面测量进行振幅分析
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
渡邊靖志
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Mori;S. Uehara;Y. Watanabe;et. al.;渡邊靖志
