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科门的使用条件
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Shinji
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Watanabe;Shinji
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电容漏电导致主板损坏
影响因子：
3.1
作者：
Y. Chiu;S. Moore
通讯作者：
S. Moore
电解电容寿命测试与维护
DOI：
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发表时间：
1997
期刊：
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影响因子：
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作者：
V. A. Sankaran
通讯作者：
V. A. Sankaran
影响因子：
1.8
作者：
F. Perisse;Pascal Venet;G. Rojat;J. Retif
通讯作者：
F. Perisse;Pascal Venet;G. Rojat;J. Retif
使用低频变压器和直流电源评估铝电解电容器的状况
DOI：
10.1109/isie.2010.5637333
发表时间：
2010
期刊：
2010 IEEE International Symposium on Industrial Electronics
影响因子：
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作者：
A. Amaral;A. M. Marques Cardoso
通讯作者：
A. M. Marques Cardoso