光-電子相関顕微鏡法（CLEM）とFocused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)を用いた破骨細胞の三次元構造解析
光-電子相関顕微鏡法（CLEM）とFocused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)を用いた破骨細胞の三次元構造解析
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使用相关光电子显微镜（CLEM）和聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）对破骨细胞进行三维结构分析
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
髙見 正道
中科院分区：
文献类型：
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作者：
細沼 雅弘 ; 坂井 信裕; 松島 英輝; 菊田 順一; 高木 孝士;武部 明; 石井 優; 髙見 正道
