Micro-Trace X-ray Analysis -Development of Grazing-Exit-Micro X-Ray Fluorescence (GE-□-XRF) in Combination with Atomic Force Microscope (AFM)-
Micro-Trace X-ray Analysis -Development of Grazing-Exit-Micro X-Ray Fluorescence (GE-□-XRF) in Combination with Atomic Force Microscope (AFM)-
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微量X射线分析 -与原子力显微镜（AFM）相结合的掠射式微量X射线荧光（GE-□-XRF）的开发-
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Tsuji
中科院分区：
文献类型：
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作者：
X.Peng;N.Aratani;A.Takagi;T.Matsumoto;T.Kawai;I.-W.Hwang;T.K.Ahn;D.Kim;A.Osuka;K.Tsuji
