X 線自由電子レーザーナノ集光システムの開発 （第2報）-蛍光X線の強度干渉現象を利用したビーム径計測手法の実証-
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X射线自由电子激光纳米聚焦系统的开发（第2报告） - 利用荧光X射线的强度干涉现象的光束直径测量方法的演示 -
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
中村南美，松山智至，井上陽登，井上伊知郎，大坂泰斗，山田純平，湯本博勝，小山貴久，大橋治彦，矢橋牧名，石川哲也，山内和人
中科院分区：
文献类型：
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作者：
中村南美，松山智至，井上陽登，井上伊知郎，大坂泰斗，山田純平，湯本博勝，小山貴久，大橋治彦，矢橋牧名，石川哲也，山内和人
