量子ビームを用いた半導体中の機能性欠陥の研究
量子ビームを用いた半導体中の機能性欠陥の研究
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利用量子束研究半导体功能缺陷
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
佐藤 真一郎
中科院分区：
文献类型：
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作者：
羽島良一;全炳俊;大垣英明;佐藤 真一郎
