Waveguide Raman spectroscopy of TiO2:SiO2 thin films
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DOI：
10.1016/s0022-3093(05)80604-0
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发表时间：
1992
影响因子：
3.5
通讯作者：
M. Bahtat;J. Mugnier;C. Bovier;H. Roux;J. Serughetti
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Bahtat;J. Mugnier;C. Bovier;H. Roux;J. Serughetti
