Determination of the three-dimensional structure of dislocations in silicon by synchrotron white X-ray topography combined with a topo-tomographic technique
Determination of the three-dimensional structure of dislocations in silicon by synchrotron white X-ray topography combined with a topo-tomographic technique
复制标题
同步加速器白光X射线形貌术结合地形断层扫描技术测定硅中位错的三维结构
DOI：
--
复制
发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
梶原堅太郎
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
川戸清爾;太子敏則;飯田敏;鈴木芳文;近浦吉則;梶原堅太郎
