Quantification of atomic force microscopy tip and sample thermal contact.
Quantification of atomic force microscopy tip and sample thermal contact.
复制标题
原子力显微镜尖端和样品热接触的量化。
DOI：
10.1063/1.5097862
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Umatova Z
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Umatova Z
通过碳纳米管尖端热探针进行超高热分辨率扫描探针显微镜
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
--
作者：
P. Tovee;M. Pumarol;M. Rosamond;Robert Jones;M. Petty;D. Zeze;O. Kolosov
通讯作者：
O. Kolosov
使用扫描热显微镜探测磁盘介质中的热传输和分层
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
IEEE International Magnetics Conference
影响因子：
--
作者：
S. Poon;J. Spièce;A. Robson;O. Kolosov;S. Thompson
通讯作者：
S. Thompson
勘误表：“利用扫描热显微镜研究纳米级接触的传热”[Appl. 107, 043105 (2015)]
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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作者：
A. Assy;S. Gomés
通讯作者：
S. Gomés