Analysi s of ITO/Mg:GaN interfaces by synch rotron radiation hard X-ray photoem ission spectroscopy and their elect rical characteristics
Analysi s of ITO/Mg:GaN interfaces by synch rotron radiation hard X-ray photoem ission spectroscopy and their elect rical characteristics
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同步旋转辐射硬X射线光发射光谱分析ITO/Mg:GaN界面及其电学特性
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Keisuke Kobayashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yasushi Toyoshima;Koji Horiba;Mas aharu Oshima;Jitsuo Ohta;Hiroshi Fujioka;Hisayuki Miki;Shigenori U eda;Yoshiyuki Yamashita;Hideki Yo shikawa;Keisuke Kobayashi
