Characterization of Electronic Charge States of P-doped Si Quantum Dots Using AFM/Kelvin Probe
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使用 AFM/开尔文探针表征 P 掺杂硅量子点的电子电荷态
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Makihara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K;Makihara;K.Makihara;K.Makihara;K.Makihara;J.Nishitani;K.Makihara
