Predicting Failures in Embedded Systems Using Long Short-Term Inference
Predicting Failures in Embedded Systems Using Long Short-Term Inference
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使用长短期推理预测嵌入式系统中的故障
DOI：
10.1109/les.2020.3007361
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发表时间：
2021
影响因子：
1.6
通讯作者：
Kurdahi, Fadi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Zhang, Tianyi;Seo, Minjun;Donyanavard, Bryan;Dutt, Nikil;Kurdahi, Fadi
