Kazufumi Sakai and Tomoya Ogawa: "A study on defects in II-VI compound crystals by Raman scattering tomography" J.Crystal Growth(to be pulished). (1990)
Kazufumi Sakai and Tomoya Ogawa: "A study on defects in II-VI compound crystals by Raman scattering tomography" J.Crystal Growth(to be pulished). (1990)
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Kazufumi Sakai和Tomoya Okawa：“通过拉曼散射断层扫描对II-VI化合物晶体中的缺陷进行研究”J.Crystal Growth（待出版）。
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