ゲーティング固体ナノポアを用いた電気計測

ゲーティング固体ナノポアを用いた電気計測
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使用门控固态纳米孔进行电学测量

DOI:
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发表时间:
2009
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
谷口正輝
谷口正輝
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
K.Tsukagoshi;S.Uryu;Y.Aoyagi;谷口正輝

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