Dielektrische Messungen an Einkristallen von Mineralen
Dielektrische Messungen an Einkristallen von Mineralen
复制标题
矿物介质与矿物晶体
DOI:
--
复制
发表时间:
1965
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
G. Wappler
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
G. Wappler
Für die Messungen an Kristallplatten diente ein Dreiplattenkondensator mit Platten aus Reinnickel. Er war an das käufliche DK-Meter nach OEHME Typ 6 0 0 RL angeschlossen. Dies arbeitet nach dem Prinzip eines H U T H K Ü H N O S Z Ü lators, ist mit einem Schwingquarz auf 7 MHz stabilisiert und ermöglicht Kapazitätsmessungen bis 150 pF. Die Meßgenauigkeit beträgt bei Netzstabilisierung + 0 , 0 5 % . Abbildung 1 zeigt die Prinzipschaltung des Geräts. Alle Messungen wurden bei Zimmertemperatur durchgeführt. Zum Ablesen der Meßwerte wurde nicht die Kompensationsmethode unter Betätigung des Abstimmkondensators CK benutzt, sondern eine Ausschlagmethode, die durch Gitterstrommessung möglich wird. Dies setzt eine Eichung der Meßanordnung voraus. Die Eichung der drei Bereiche (0 ··· 50, 50 ··· 100, 1 0 0 · · · 1 5 0 pF) muß gesondert erfolgen. Sie wurde mit Einzelkondensatoren bekannter Kapazität durchgeführt, deren Toleranzen nicht über ± 3 % lagen. Für die Gitterstrommessungen wurde ein Zeisssches Skalengalvanometer benutzt, das über ein Potentiometer so an das DK-Meter angeschlossen war, daß möglichst für jeden Bereich Vollausschlag erzielt wurde. Abbildung 2 zeigt die Eichkurven für die drei Meßbereiche.