An Electron-Beam Profile Monitor Using Fresnel Zone Plates

An Electron-Beam Profile Monitor Using Fresnel Zone Plates
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使用菲涅尔波带板的电子束轮廓监测器

DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
Proceedings of the 8^<th> International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation : AIP Conference Proceedings 705
影响因子：
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通讯作者：
Norio Nakamura
Norio Nakamura
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Yasutake;N.;S.Aoki;T.Ishikawa et al.;T.Ishikawa;T.Ishikawa;T.Ishikawa et al.;T.Ishikawa et al.;T.Ishikawa;Hiroshi Sakai;Hiroshi Sakai;Toshiya Muto;Takeshi Naito;Hiroshi Sakai;Hiroshi Sakai;Toshiya Muto;Takeshi Naito;Hiroshi Sakai;Toshiya Muto;Takeshi Naito;Norio Nakamura

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