F.Iwata: "Conductive atomic force microscopy study of InGaN films grown by hot-wall epitaxy with a mixed (Ga+In)"J.Appl.Phys.. 88. 1670-1673 (2000)
F.Iwata: "Conductive atomic force microscopy study of InGaN films grown by hot-wall epitaxy with a mixed (Ga+In)"J.Appl.Phys.. 88. 1670-1673 (2000)
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F.Iwata：“通过热壁外延与混合 (Ga In) 生长的 InGaN 薄膜的传导原子力显微镜研究”J.Appl.Phys.. 88. 1670-1673 (2000)
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