Combining near-field scanning optical microscopy with spectral interferometry for local characterization of the optical electric field in photonic structures
Combining near-field scanning optical microscopy with spectral interferometry for local characterization of the optical electric field in photonic structures
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将近场扫描光学显微镜与光谱干涉测量相结合，用于光子结构中光电场的局部表征
DOI：
10.1364/oe.21.016629
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
3.8
通讯作者：
Trägårdh J
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Trägårdh J
